加速寿命试验
随着科学技术的发展、高可靠长寿命的产品愈来愈多，许多电子元器件在正常的工作条件下其寿命可达数百万小时以上。这种情况在工作条件下进行寿命试验已变得不现实，因此，在不改变产品的失效机理的条件下，通过提高工作环境的应力水平来加速产品的失效，尽快地暴露产品设计过程中的缺陷，发现故障模式，称这种超过正常应力水平下的寿命试验为加速寿命试验。
加速寿命试验有如下三种常见的试验类型。
（1）恒定应力加速寿命试验。在恒定应力加速寿命试验中，根据产品的失效机理选定一组逐渐升高的应力水平，它们都高于正常应力水平，在每个应力水平上投入一定量的受试样品进行寿命试验，直到每个应力水平均有一定数量的样品出现失效为止。
（2）步进应力加速寿命试验。先选定一组高于正常应力水平的加速应力水平，将受试样品在选定加速应力水平下由低向高逐渐提高应力水平，在每个水平上进行规定时间长度的寿命试验。这里规定时间长度一般视试验进行情况而定，一般原则是要在不同的加速应力水平上有一定量的累积失效样品。
（3）序进应力加速寿命试验。序进应力加速寿命试验与步进应力加速寿命试验原理基本相同，只是应力的改变是随时间连续变化的而非跳跃式增加。
